Mikroskop sił atomowych z przewodzącą sondą skonstruowałem w ramach pracy dyplomowej, którą realizowałem w latach 2007–2008 w Laboratorium Mikroskopii Bliskich Oddziaływań, Nanostruktur i Nanomiernictwa WEMiF PWr. Korzystając z doświadczeń starszych Koleżanek i Kolegów, którzy opracowywali mikroskopy bliskich oddziaływań, wprowadziłem rozwiązania, które stały się podstawowym wyposażeniem późniejszego modularnego mikroskopu SPM typu Drobnowidz. Nowymi konstrukcjami były między innymi:

• uchwyt mikrobelki pomiarowej w wariantach dla sond przewodzących i sond pracujących w trybie rezonansowym, dostosowany do sond z serii Pointprobe® firmy NanoWorld AG;
• podstawa głowicy mikroskopu SPM – najcięższy element mikroskopu, w którym umieszczony jest skaner piezoelektryczny oraz przez który wyprowadzone jest okablowanie;
• głowica mikroskopu SPM z laserem i układem detekcji ugięcia mikrobelki z dodatkowymi zwierciadłami kierującymi wiązkę – po moich pierwszych próbach konstrukcję istotnie rozwinął i udoskonalił Grzegorz Gruca.

Mikroskop C-AFM wykorzystałem do badań właściwości elektrycznych ultracienkich warstw tlenkoazotku krzemu (SiO_xN_y), jednego z materiałów o dużej przenikalności elektrycznej (tzw. high-κ materials) wykorzystywanych w mikroelektronice jako zamienniki ditlenku krzemu. Eksperymenty prowadziłem na próbkach udostępnionych przez AMD Saxony.